热门站点| 世界资料网 | 专利资料网 | 世界资料网论坛
收藏本站| 设为首页| 首页

BS 5694-1979 非线性电阻器的测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 16:04:31  浏览:8097   来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Methodformeasurementofnon-linearityinresistors
【原文标准名称】:非线性电阻器的测量方法
【标准号】:BS5694-1979
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1979-01-31
【实施或试行日期】:1979-01-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:线性度;电失真;电阻器;额定功率;电波测量;谐波;阻抗测量;电学测量
【英文主题词】:Electricalengineering;Measurement;Resistors
【摘要】:Methodformeasurementandassociatedtestconditionsfordeterminingthemagnitudeofnon-lineardistortiongeneratedinaresistor.
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_01
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语


下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Slottedcountersunkheadtappingscrews
【原文标准名称】:带槽沉头薄钢板连接螺钉
【标准号】:DIN7972-1988
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J13
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis--Determinationofsurfaceelementalcontaminationonsiliconwafersbytotal-reflectionX-rayfluorescence(TXRF)spectroscopy
【原文标准名称】:表面化学分析.用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面主要污染物
【标准号】:JISK0148-2005
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonBasicEngineering
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,シリコン鏡面ウェーハ又はエピタキシャルウェーハの表面原子濃度を,全反射蛍光X線分折法(TXRF)によって定量する方法について規定する。この方法は,次の元素分析に適用する。—原子番号が16(S)から92(U)までの元素—表面原子濃度が1×10atoms/cmから1×10atoms/cmまでの汚染元素—VPD試料前処理法を用いる場合は,表面原子濃度が5×10atoms/cmから5×10atoms/cmまでの汚染元素
【中国标准分类号】:A43
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:24P;A4
【正文语种】:日语



版权声明:所有资料均为作者提供或网友推荐收集整理而来,仅供爱好者学习和研究使用,版权归原作者所有。
如本站内容有侵犯您的合法权益,请和我们取得联系,我们将立即改正或删除。
京ICP备14017250号-1