JIS S5504-1992 笔记本和练习本
作者:标准资料网 时间:2024-05-30 01:56:45 浏览:8447
来源:标准资料网
【英文标准名称】:
【原文标准名称】:笔记本和练习本
【标准号】:JISS5504-1992
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1992-07-01
【实施或试行日期】:1992-07-01
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:笔记本;文化用品;纸;办公室设备;教育设备
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Y50
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
基本信息
| 标准名称： | 2GHz cdma2000数字蜂窝移动通信网设备技术要求:高速分组数据(HRPD)(第一阶段)接入终端(AT) |
| 英文名称： | Technical Requirement for 2GHz cdma2000 Digital Cellular Mobile Communication Network Equipment:High Rate Packet Data(Phase Ⅰ)Access Terminal |
| 中标分类： |
通信、广播 >>
通信网 >>
通信网设备互通技术要求和通信网借口 |
| ICS分类： |
电信、音频和视频技术 >>
电信系统 >>
电信系统综合
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| 发布日期： | 2007-05-16 |
| 实施日期： | 2007-05-16 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 出版日期： | |
| 页数： | 18 |
适用范围
本标准规定了2GHz cdma2000数字蜂窝移动通信网接入终端设备的等级、频段类别、功能、性能指标、环境要求等方面的要求。本标准适用于支持UIM卡功能的2GHz CDMA2000 HRPD接入终端，本标准不适用于不支持UIM卡功能的2GHz CDMA2000 HRPD接入终端。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 通信 广播 通信网 通信网设备互通技术要求和通信网借口 电信 音频和视频技术 电信系统 电信系统综合
【英文标准名称】:StandardGuideforDepthProfilinginAugerElectronSpectroscopy
【原文标准名称】:俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
【标准号】:ASTME1127-2008
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2008
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E42.03
【标准类型】:(Guide)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:anglelapping;angle-resolvedAES;Augerelectronspectroscopy;ballcratering;compositionaldepthprofiling;crosssectioning;depthprofiling;depthresolution;sputterdepthprofiling;sputtering;thinfilms;Surfaceanalysis--spectrochemicalanalysis
【摘要】:Augerelectronspectroscopyyieldsinformationconcerningthechemicalandphysicalstateofasolidsurfaceinthenearsurfaceregion.Nondestructivedepthprofilingislimitedtothisnearsurfaceregion.Techniquesformeasuringthecraterdepthsandfilmthicknessesaregivenin(1).Ionsputteringisprimarilyusedfordepthsoflessthantheorderof1x03BC;m.Anglelappingormechanicalcrateringisprimarilyusedfordepthsgreaterthantheorderof1x03BC;m.Thechoiceofdepthprofilingmethodsforinvestigatinganinterfacedependsonsurfaceroughness,interfaceroughness,andfilmthickness(2).ThedepthprofileinterfacewidthscanbemeasuredusingalogisticfunctionwhichisdescribedinPracticeE1636.1.1ThisguidecoversproceduresusedfordepthprofilinginAugerelectronspectroscopy.1.2Guidelinesaregivenfordepthprofilingbythefollowing:
Section
IonSputtering
6
AngleLappingandCross-Sectioning
7
MechanicalCratering
8
MeshReplicaMethod
9
NondestructiveDepthProfiling
10
