BS EN 60749-35-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.塑封电子器件的声学显微方法
作者:标准资料网 时间:2024-04-30 20:03:42 浏览:9647
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Acousticmicroscopyforplasticencapsulatedelectroniccomponents
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.塑封电子器件的声学显微方法
【标准号】:BSEN60749-35-2006
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-11-30
【实施或试行日期】:2006-11-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检查表;气候;气候试验;组件;定义;电气工程;电气测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;误差检测;集成电路;机械测试;塑料叠层板;半导体器件;半导体;测试;超声测试;超声传播技术;超声波学
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60749definestheproceduresforperformingacousticmicroscopyonplasticencapsulatedelectroniccomponents.Thisstandardprovidesaguidetotheuseofacousticmicroscopyfordetectinganomalies(delamination,cracks,mould-compoundvoids,etc.)reproduciblyandnon-destructivelyinplasticpackages.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.塑封电子器件的声学显微方法
【标准号】:BSEN60749-35-2006
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2006-11-30
【实施或试行日期】:2006-11-30
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检查表;气候;气候试验;组件;定义;电气工程;电气测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;误差检测;集成电路;机械测试;塑料叠层板;半导体器件;半导体;测试;超声测试;超声传播技术;超声波学
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60749definestheproceduresforperformingacousticmicroscopyonplasticencapsulatedelectroniccomponents.Thisstandardprovidesaguidetotheuseofacousticmicroscopyfordetectinganomalies(delamination,cracks,mould-compoundvoids,etc.)reproduciblyandnon-destructivelyinplasticpackages.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P;A4
【正文语种】:英语
下载地址: 点击此处下载
